Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография

Аннотация

В монографии английских ученых освещены основы теории и практики современных неразрушающих рентгеновских методов исследования и контроля реальной структуры материалов электронной техники. Объединены высокоразрешающая дифрактометрия и топография, которые

Отзывы читателей

Оставить отзыв

Ваше имя Отзыв Проверочный код Отправить отзыв