Integrated Circuit Failure Analysis
Автор: Friedrich Beck
Издательство: John Wiley and Sons, Ltd
Год издания: 1998
Страниц: 174
ISBN: 0471974013
Аннотация:
Fault analysis of highly-integrated semiconductor circuits has become an indispensable discipline in the optimization of product quality. Integrated Circuit Failure Analysis describes state-of-the-art procedures for exposing suspected failure sites in se
Посмотреть в магазинах:
Другие сервисы поиска:
Книгу "Integrated Circuit Failure Analysis" (Friedrich Beck) можно также попробовать поискать и скачать в бесплатных электронных библиотеках, однако мы рекомендуем пользоваться только официальными сервисами, имеющими соглашения с авторами и издательствами.
|
| (c) KBD.RU |