Основы сканирующий зондовой микроскопии

Аннотация

Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур – от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Подробно описаны применяемые конструкции

Отзывы читателей

Оставить отзыв

Ваше имя Отзыв Проверочный код Отправить отзыв