Теория тестирования логических устройств
Автор: Кудрявцев В.Б., Гасанов Э.Э., Долотова О.А., Погосян Г.Р.
Издательство:
Год издания: 2006
Страниц: 160
ISBN: 9785922107273
Аннотация:
Теория тестирования логических устройств
Посмотреть в магазинах:
Другие сервисы поиска:
Книгу "Теория тестирования логических устройств" (Кудрявцев В.Б., Гасанов Э.Э., Долотова О.А., Погосян Г.Р.) можно также попробовать поискать и скачать в бесплатных электронных библиотеках, однако мы рекомендуем пользоваться только официальными сервисами, имеющими соглашения с авторами и издательствами.
|
| (c) KBD.RU |