Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей
Автор: В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов
Издательство: Флинта, Наука
Год издания: 2007
Страниц: 224
ISBN: 9785976502079
Аннотация:
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорент-геноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализиров
Посмотреть в магазинах:
Другие сервисы поиска:
Книгу "Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей" (В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов) можно также попробовать поискать и скачать в бесплатных электронных библиотеках, однако мы рекомендуем пользоваться только официальными сервисами, имеющими соглашения с авторами и издательствами.
|
| (c) KBD.RU |